一、标准概述：它是什么？
标准名称： GB/T 34986-2017 《产品加速试验方法通则》
标准定位： 这是一份指导性标准，而非具体的测试细则。它提供了如何科学地规划、设计、实施和评估加速试验的通用框架和原则。
核心目标： 通过施加比正常使用条件更严酷的应力（如更高温度、更大湿度、更强振动），在短时间内激发产品的潜在缺陷，并预测其在正常使用条件下的寿命和可靠性。
核心价值：为什么需要加速试验？
传统可靠性试验（如在正常条件下长时间运行）周期长、成本高。加速试验的优势在于：
缩短研发周期：快速暴露设计缺陷，为改进设计提供数据支持。
降低开发成本：早期发现问题，避免批量生产后因召回和维修造成的巨大损失。
预测产品寿命：通过加速模型，预估产品的平均寿命（MTTF）或失效率。
质量控制：用于筛选有缺陷的元器件或工艺不一致的产品。
二、加速试验的基本原理
加速试验的理论基础是：产品的失效是由某些物理或化学过程（如氧化、疲劳、腐蚀）引起的，而这些过程的速率会随着应力的增加而加快。
核心加速模型：
标准中介绍了多种加速模型，最经典的是基于阿伦尼乌斯方程的温度加速模型：
公式： AF = exp[ (Ea/k) * (1/T_use - 1/T_stress) ]
参数解读：
AF： 加速因子。例如 AF=50，表示试验中1小时相当于正常使用50小时。
Ea： 失效机理的激活能（单位： eV）。这是关键参数，不同失效模式（如电解电容干涸、半导体老化）的 Ea 值不同。
k： 玻尔兹曼常数。
T_use： 正常使用时的绝对温度（开尔文）。
T_stress： 加速试验时的绝对温度（开尔文）。
简单来说：提高温度可以显著加快化学反应速率，从而快速引发失效。
三、加速试验的主要类型
GB/T 34986-2017 阐述了以下几种基本类型：
| 类型 | 核心思想 | 适用场景 | 举例 |
| 定量加速试验 | 已知加速模型，目标是通过试验数据精确估算产品在正常应力下的寿命 | 寿命预测、可靠性验证。 | 对芯片进行高温工作寿命试验，预测其10年后的失效率。 |
| 定性加速试验 | 不关心具体寿命，目标是通过高应力快速激发并识别产品的失效模式和薄弱环节。 | 设计验证、缺陷筛查、工艺改进。 | HALT： 通过逐步加大温度和振动应力，快速找到产品的操作极限和破坏极限 |
| 加速寿命试验 | 定量试验的一种。在加大应力下进行寿命试验，利用加速模型外推正常使用条件下的寿命分布。 | 评估耐磨性、疲劳寿命等。 | 对开关进行加速机械疲劳测试，预估其可点击次数。 |
