一、 核心定义：什么是加速寿命试验？
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正常条件：应力水平低，产品失效慢，测试需要几年甚至十几年，无法满足产品研发周期。 •
加速条件：施加高应力，产品失效加快，可能在几周或几个月内就能观察到失效。 •
目标：通过高应力下的短期数据，预测出正常应力下的长期寿命。
二、 为什么需要加速寿命试验？
1.
缩短研发周期：现代产品更新迭代快，无法等待数年时间去验证寿命。ALT可以在设计阶段快速暴露缺陷，为改进设计提供依据。 2.
高可靠性要求：许多产品（如汽车零部件、航空航天器件、医疗设备）要求极高的可靠性和极长的寿命（10年、20年以上），常规测试无法验证。 3.
降低测试成本：长时间的测试需要巨大的人力、物力和场地成本。ALT极大地减少了这些开销。 4.
评估退化机理：帮助工程师理解产品主要的失效模式和失效机理。
三、 加速寿命试验的基本原理
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公式： AF = exp[(Ea/k) * (1/T_use - 1/T_stress)]•
AF： 加速因子（Acceleration Factor）。例如，AF=50表示试验中测试1小时，相当于正常使用50小时。•
Ea： 活化能（Activation Energy），是描述失效机理对温度敏感度的关键参数，单位是eV。•
k： 玻尔兹曼常数。•
T_use： 正常使用温度（开尔文温度）。•
T_stress： 加速试验温度（开尔文温度）。
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逆幂律模型：适用于电压、压力、振动等应力。 AF = (S_stress / S_use)^n•
艾林模型：适用于同时考虑温度和湿度的应力（常用于PCBA的腐蚀）。
四、 主要试验类型
五、 实施ALT的关键步骤
1.
明确试验目的：确定要评估的寿命特征（如MTTF、中位寿命、B10寿命等）和置信度。 2.
识别失效模式和机理：通过FMEA（失效模式与影响分析）找出产品最可能发生的、对时间敏感的失效模式。 3.
选择加速应力类型：选择能有效加速上述失效模式的应力（如温度、电压、湿度循环）。 4.
确定应力水平：通常设置3-4个高于正常水平的应力点。最高应力水平不能引入新的失效模式。 5.
准备样品与搭建平台：随机抽取足够数量的样品，搭建能精确控制和监测应力的试验设备。 6.
执行试验与收集数据：记录每个样品的失效时间（或截止试验时未失效的时间）。 7.
数据分析与模型拟合：使用统计软件（如Minitab, Weibull++）将失效数据与加速模型进行拟合，估算出模型参数（如Ea）。 8.
外推预测正常寿命：利用拟合好的模型，计算加速因子（AF），将加速条件下的寿命外推至正常使用条件下的寿命分布。
六、 应用实例
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LED灯珠：在高温下（如85°C）进行恒温点亮试验，通过光衰程度推算出其在25°C室温下的使用寿命。 •
手机锂电池：进行大电流充放电循环，推算出在正常充放电电流下的循环寿命。 •
汽车发动机部件：在极端转速和负载下进行台架试验，评估其正常驾驶条件下的磨损寿命。 •
半导体芯片：进行高温反偏（HTRB）试验，评估其长期工作的可靠性。
七、 重要注意事项
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不能引入新的失效模式：施加的应力不能高到让产品以一种在正常使用中永远不会出现的方式失效，否则外推无效。 •
模型选择的准确性：寿命预测的准确性严重依赖于所选择的物理/统计模型是否正确。错误的模型会导致荒谬的预测结果。 •
样本量：需要有足够的样本量来保证统计结果的置信度。