全国销售热线4000199838

失效分析

X-ray透视

概述

X-ray透视扫描是一种无损检测方式,当无法采取破坏方式检查产品内部状态的情况时,x射线扫描就显得极为重要。对于很多高新电子元器件,表面的检测已无法满足产品检测要求。并且由于产品内部电子电路的连接短路断路不可直接观测,所以高性能的X射线实时检测显得尤为重要。针对BGA检测,多层PCB焊锡检测而专门开发出来的X-ray检测专用系统,使得PCB电路板的缺陷检测分析变得更加迅速灵活。

 应用领域:

 电气电子产品及零部件、汽车用塑料件等。

 参考标准:GB/T 26592等。



上一篇:失效分析单项检测
下一篇:扫描电镜与能谱分析
相关推荐

深圳讯科标准技术为第三方检测机构,专业提供:3C认证,KC认证,CE认证, CCC认证, UV老化测试, 高低温测试, 声学测试, 老化寿命测试, 有害物质检测, 软件测试测评, 防水防尘测试, 第三方检测中心, 危废鉴定, 第三方测试报告, ROHS环保认证, FCC认证, PSE认证, BQB认证, CB认证, SRRC型号核准, 防爆认证, 可靠性测试, 氙灯老化测试, ISTA包装运输测试, 气体腐蚀测试, 振动冲击测试, 冷热冲击测试, WF2腐蚀等级测试, MTBF认证测试, 失效分析, 材料检测中心, 建筑材料检测, 连接器测试, 噪音测试, 环保检测, 环境检测, 水质检测, 材质鉴定, MSDS认证报告, 运输鉴定报告, 质检报告, 烤箱检测, 亚马逊UL检测报告, 防火测试, 玩具检测, 电子产品质量检测中心, 食品接触材料检测, 材料成分分析, 生物降解检测, reach测试,欢迎您的来电。


版权所有Copyright(C)2013-2015深圳市讯科标准技术服务有限公司粤ICP备16026918号-2


网站地图 XML

咨询热线:4000199838