针对材料件、电子元器件、电子组件、电子整机乃至电子系统的高可靠、长寿命指标验证的需求，
高加速试验一般分为宝加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验，高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。HALT不是一种合格或者不合格的测试，是一种协助设计工程师改善产品可靠性的工具，没有预先设定极限，极限由产品决定，逐步增加应力，直至失效，试验中需要对产品进行监测。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）试验产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后所做的高加速应力筛选,应力低于HALT试验。
适用范围：
可为电工电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的模块、通讯终端、部件以及整机等开展Halt/Hass试验。
测试标准：
GB/T 29309；