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技术专栏

可靠性增长试验:产品研发阶段可靠性增长测试项目说明

一、项目概述

可靠性增长试验(Reliability Growth Testing, RGT)在研发阶段对产品施加综合应力并持续监测失效,通过「试验—分析—改进」(TAAF)循环消除缺陷、提升固有可靠性,是复杂装备与高可靠产品研制的关键过程。

二、验证目标

  • 在研制过程中持续提升可靠性水平
  • 定位系统性设计与工艺缺陷
  • 用增长模型预测达到目标的进度

三、适用产品范围

  • 复杂电子设备与系统
  • 军品、航天与高端装备
  • 新平台首研产品

四、试验条件与实施要点

  • 采用综合环境应力剖面
  • 建立失效数据闭环与纠正措施
  • 用 Duane、AMSAA 模型追踪增长
  • 设定阶段可靠性目标

五、参考标准

  • GJB 1407 可靠性增长试验
  • IEC 61164 可靠性增长统计方法
  • GB/T 2900 可靠性术语

六、检测服务说明

增长试验的价值在于「发现问题并纠正」,仅试验不改进无法带来可靠性提升。 本机构具备 ISO/IEC 17025 检测能力认可,依托环境可靠性实验室可为上述产品提供从方案设计、样品测试到失效分析与报告交付的一站式可靠性检测服务,服务覆盖电子、汽车、军工及消费类等多行业 500+ 企业。如需了解具体试验参数或获取检测报价,欢迎联系技术工程师。