HAST高加速寿命试验特点和目的标准

HAST即高加速应力测试，是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。是对潮湿环境下非密封封装器件进行可靠性评估。利用严酷的温度，湿度及偏置条件来加速水穿过外部保护材料或者沿外部保护材料-金属导体界面渗入，UHAST是不加偏置电压，以确保能够发现可能被偏压掩盖的失效机理（如电偶腐蚀）。

一、HAST试验优点包括

（1）提高产品的可靠性高加速寿命试验由于使用步进应力方法，不断地通过提高应力，发现和改进该应力激发的缺陷，使产品设计得越来越完善，把其工作应力极限和破坏应力极限推向最高处，远高于规范规定或使用中会遇到的应力，得到非常大的设计裕度；高加速应力筛选又进一步全面剔除制造过程引入的潜在缺陷，从而提高产品的可靠性。
（2）缩短产品研制进度和降低成本采用加速试验方法，可以比传统的设计和试验以快得多的速度使产品达到在设计和工艺上成熟，从而缩短研制过程总时间，得以早日投放市场，抢占市场份额。产品设计和工艺成熟快，产品研制和生产成本反而低。
（3）可以简化验证试验由于HAST过程已施加了远远超过规范规定的所有最高应力，而且一般可以认为，在较低的应力等级上，不会再发现什么缺陷，使用规范规定的应力进行设计验证或设计定型鉴定试验或许可论证省略。

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广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

三、HAST试验的目的
HAST用于强化设计或剔除早期故障的基本过程，除了施加应力外，还包括析出缺陷、检测故障、故障分析、采取改正措施、验证纠正措施等5个方面。
（1）析出缺陷：析出缺陷是指通过施加应力将潜在的或不可检测的缺陷变为明显的或可检测的缺陷。
（2）检测故障：潜在缺陷变为明显缺陷，并不等于实际上它就可以检测到，可以通过应力激发等方法使这一明显缺陷处于最易检测到的状态。
（3）故障分析：一旦检测到故障，就需对故障进行分析，确定出现故障的原因，以便选择相应的改进措施。
（4）改进措施：改进措施是指改进设计或工艺，以使将来不再出现故障，采取改进措施是HAST的主要目的。
（5）改进措施验证：对改进措施是否有效，需要通过试验来验证四、HAST试验过程在产品的研发试制阶段，通过HAST试验给产品施加高温、高湿以及高压，加速湿气对产品的侵入，产生离子迁移效应。从而快速发现和定位产品的设计和工艺缺陷，给产品的设计和完善提供强有力的依据，缩短试验周期。并以此使产品的设计和制造工艺，在投入批生产之前就达到成熟的程度。使产品在最终用户的使用现场中极少出现设计和工艺相关故障，提升产品竞争力。针对售后产品，通过HAST试验，快速复现产品在使用现场中出现的故障，缩短改进周期，减少售后成本。

五、HAST试验适用标准
IEC60749-4（高加速应力试验）
ED-4701/100A(不饱和蒸汽加压试验)
JESD22-A118（无偏压高加速应力试验）
JESD22-A110E（高加速应力试验）
JESD22-A102E（无偏压高压蒸煮试验）
AEC-Q100-版本H（偏压高加速应力试验/无偏压高加速应力试验）
JPCA-ET08（不饱和加压蒸汽试验）