高低温试验箱测试流程及判断标准

高低温试验箱

高低温试验箱具有良好的保温性能，箱室上顶面装有鼓风机，配以箱内风道，使箱内热空气有规律循环，从而提高了箱内温度均匀度。电加热器密封式管状形状，以防露热丝和低着火点气体直接接触而发生事故。

高低温试验箱测试流程：

1·当样品断电时，首先将温度降至-50℃，保持4小时样品上电时不进行低温测试非常重要，因为芯片本身上电时温度会高于+20℃，所以通常上电时更容易通过低温测试，所以必须先“冻透”，再重新上电进行测试。

2.启动机器，测试样品的性能，与常温相比性能是否正常。

3.进行老化测试，看是否有数据对比错误。

4.将温度升至+90℃，并保持4小时。与低温测试是相反的，芯片内部温度要保持在高温状态，加热过程中不断电。在4小时之后，执行测试步骤2、3和4。

5.高温和低温试验分别要重复10次。

如果测试过程在任何时候都不能正常工作，就被认为是测试失败。

试验标准

JUN用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验GJb150.4A-2009

JUN用装备实验室环境试验方法 第 3 部分：高温试验 GJb150.3A-2009

JUN用通信设备通用规范GJb 367A-2001JUN用计算机通用规范 GJb 322A-1998

JUN用电子测试设备通用规范 GJb 3947A-2009舰船电子设备环境试验 高温试验 GJb 4.2-1983舰船电子设备环境试验 低温试验 GJb4.3-1983舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJb 4.4-1983技术侦察装备通用技术要求 第 7 部分：环境适应性要求和试验方法 GJb 1621.7A-2006电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008

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